Richiami: grandezze e parametri caratteristici dei sistemi a microonde, incertezza di misura, classificazione e combinazione delle incertezze. Analizzatore di reti: scalare e vettoriale, struttura e funzionamento, calibrazione dell'analizzatore di reti, tecniche di calibrazione SOLT, TRL, incertezza di misura. Misure nel dominio del tempo: dirette, misure in riflessione, misure in trasmissione, misure indirette, gating. Analizzatore di spettro: struttura e funzionamento, parametri degli analizzatori di spettro, incertezza di misura. Misuratori di potenza: sensori a diodo, bolometri, ponte auto bilanciato, termocoppie. Misuratori di radiazione: misuratori di campo elettrico, misuratori di campo magnetico. Misure di campo a banda larga, misure di campo a banda stretta, misure di SAR, Misura della figura di rumore: Definizione, tecniche di misura. Misura del rumore di fase: Definizione, tecniche di misura.
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ORARIO DELLE LEZIONI 2013 - 2014
MERCOLEDI' ORE 8:30 - 10:00 AULA 6
GIOVEDI' ORE 10:15 - 11:45 AULA 9
VENERDI' ORE 8:30 - 10:00 AULA 6
1 LUCIDI - INTRODUZIONE AL CORSO
2 LUCIDI - PARAMETRI SISTEMI LINEARI
3 LUCIDI - RICHIAMI INCERTEZZA
6 LUCIDI - MISURE NEL DOMINIO DEL TEMPO
9 LUCIDI - PARAMETRI SIST NON LINEARI
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Ricevimento: Lun.-Ven. 10-12
Contattare il docente telefonicamente Tel. 0644585842
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Testo del corso
Appunti distribuiti dal docente
Altri testi:
Roddy, Microwave Technology, Prentice Hall, 1986
Laverghetta, Mirowave Measurements and Techniques, Artech House, 1976
Laverghetta, Handbook of Microwave Testing, Artech House, 1981
Engelson, Modern Spectrum Analyzer Theory and Applications
Wartenberg, RF Measurements of Die and Packages, Artech House, 2002
Bryant, Principles of Microwave Measurements, IEE series, 1997
Bailey, Microwave Measurements, IEE series, 1989